Use this url to cite Standard: https://hdl.handle.net/20.500.12512/201371
Optinio grandyno plokštės. Pagrindinės bandymo ir matavimo procedūros. 2 dalis. Optinio grandyno plokščių optinių charakteristikų matavimo sąlygų apibūdinimo bendrieji nurodymai (IEC 62496-2:2017)
ID
653900
Reference
LST EN 62496-2:2017
Original Reference
EN 62496-2:2017
Title
Optinio grandyno plokštės. Pagrindinės bandymo ir matavimo procedūros. 2 dalis. Optinio grandyno plokščių optinių charakteristikų matavimo sąlygų apibūdinimo bendrieji nurodymai (IEC 62496-2:2017)
Other Title
Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards (IEC 62496-2:2017)
Contributor
Lietuvos standartizacijos departamentas
Date Issued
2017-12-29
Technical Committee
TK 1 Elektronika
Foreign Technical Committee
CLC/SR 86 Skaidulinė optika
Subject
| No | Subject |
|---|---|
33.180.01 | Skaidulinės optinio ryšio sistemos. Bendrieji dalykai |
Document
| Document | Language | Pages |
|---|---|---|
en | 41 |
Active
Taip / Yes
Date of Submission
2024-02-22