Use this url to cite Standard: https://hdl.handle.net/20.500.12512/156775
Aplinkos poveikio bandymai. 2-82 dalis. Bandymai. Tx bandymas. Elektroninių ir elektrinių komponentų bandymo, naudojant siūlinius kristalus, metodai (IEC 60068-2-82:2007)
ID
595248
Reference
LST EN 60068-2-82:2007
Original Reference
EN 60068-2-82:2007
Title
Aplinkos poveikio bandymai. 2-82 dalis. Bandymai. Tx bandymas. Elektroninių ir elektrinių komponentų bandymo, naudojant siūlinius kristalus, metodai (IEC 60068-2-82:2007)
Other Title
Environmental testing - Part 2-82: Tests - Test Tx: Whisker test methods for electronic and electric components (IEC 60068-2-82:2007)
Contributor
Lietuvos standartizacijos departamentas
Date Issued
2007-11-15
Technical Committee
TK 1 Elektronika
Foreign Technical Committee
CLC/SR 91 Elektroninių komponentų surinkimo technologija, IEC/TC 91 Elektroninių komponentų surinkimo technologija
Subject
No | Subject |
---|---|
19.040 | Klimatiniai bandymai |
31.190 | Elektroninių komponentų sąrankos |
Document
Document | Language | Pages |
---|---|---|
en | 32 |
Active
Ne / No
Valid Until
2022-06-18
Replaced by
Date of Submission
2024-02-22